论坛风格切换切换到宽版
离线emcc
 

发帖
233
世科币
455
威望
247
贡献值
129
银元
0
只看楼主 倒序阅读 使用道具 楼主  发表于: 2023-06-13

1)      产品特征
法令定义:Set Top Boxes/机顶盒
2)      测试标准IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
3)      产品系列划分依据

作为系列产品的基本配置组别
作为同一系列产品的要求
带有电源适配器的设备
电源适配器相同(可替换型号的电源适配器可能作为主要产品进行评估)
外壳相同(装饰部件除外)
PCB布线相同
带有可接市电的内部电源的设备
电源布线相同或SMPS电路板布线相同S
外壳相同(装饰部件除外)
电源变压器:相同的设计和绝缘系统

4) 授权测试实验:

评价一下你浏览此帖子的感受

精彩

感动

搞笑

开心

愤怒

无聊

灌水
 
离线emcc

发帖
233
世科币
455
威望
247
贡献值
129
银元
0
只看该作者 沙发  发表于: 2023-06-13

授权测试实验室名称
范围
费用
Electronic Regional Test Laboratory (North)
联络人: Sh. M.P.Sharma, Director
电话: 011-26386219
传真: 26387163
电子邮箱:ertln@ernet.in
地址:S-Block,Okhla Industrial Area, Phase-II 110020
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从2013114日至2014614日。
测试范围不包括:可燃液体测试(Cl.4.3.12)、元器件测试(Cl.1.5)、安全联锁装置(Cl.2.8.5)、开关和继电器Cl.2.8.7)、半导体器件(Cl.2.10.5.4)、紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)、人体暴露在紫外线(UV)辐射下(Cl.4.3.13.4)。
Rs.60650(约合RMB 6065)
Electronics Regional Test Laboratory (East)
联络人: Shri S. Chatterjee, Director
电话: 033-23673662/6 /7543
传真: 033-23679472/8974
电子邮箱:ertle@ertleast.org
地址: Block DN, Sector V, Salt Lake CITy Kolkata 700091
IS 616:2010《音频、视频及类似电子设备-安全要求》
注:授权生效日期从201348日至2015331日。
测试范围不包括:元器件测试(Cl.1.5)。
Rs.54000(约合RMB 5400)
Electronics Regional Test Laboratory (W)
联络人: Shri K. Murari, Director in-charge
电话:28236859/28301138
传真: 022-28225713
电子邮箱:ertlwest@stqc.nic.in
地址:Plot No. F 7&8, MIDC Area, Opp SEEPZAndheri (East) Mumbai 400093
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从201319日至2014914日。
测试范围不包括:可燃液体(Cl.4.3.12)、紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)、人体暴露在紫外线(UV)辐射下(Cl.4.3.13.4)、其他类型Cl.4.3.13.6)、元器件测试(Cl.1.5)、运动部件(Cl.2.8.5)、开关和继电器(Cl.2.8.7)、过载测试(Cl.2.8.7.2)、耐久性测试(Cl.2.8.7.3)、半导体器件(Cl.2.10.5.4)、绕组组件中的绝缘(Cl.2.10.5.11)、绕组组件中的绕组线(Cl.2.10.5.12)、组组件中的带有溶剂型漆的绕组线(Cl.2.10.5.13)、绕组组件中另加的绝缘(Cl.2.10.5.14)、涂覆印制板及涂覆元器件的试验(Cl.2.10.8Cl.2.10.8.1)、热处理(Cl.2.10.8.2)、耐磨测试(Cl.2.10.8.4)、热循环(Cl.2.10.9)、对污染等级1环境和绝缘化合物的试验(Cl.2.10.10)、半导体器件和粘合的接缝的试验(Cl.2.10.11)、封装的和密封的零部件(Cl.2.10.12)、器具插座(Cl.3.2.4)、电源软线​​Cl.3.2.5,Cl.3.2.5.1,Cl.3.2.5.2)、阴极射线管(Cl.4.2.8)、电池Cl.4.3.8)、防火防护外壳的条件(Cl.4.7.2,Cl.4.7.2.1,Cl.4.7.2.2)、
材料(Cl.4.7.3,Cl.4.7.3.1,Cl.4.7.3.2,
Cl.4.7.3.3,Cl.4.7.3.5,Cl.4.7.3.4,Cl.4.7.3.6)、电动机(Cl.5.3.2)、变压器(Cl.5.3.3)、机电组件(Cl.5.3.5)、模拟故障(Cl.5.3.7)、无人值守的设备(Cl.5.3.8)。
Rs.54000(约合RMB 5400)
注:为BIS认证进行该项测试优惠10%
Electronics Test & Development Centre
联络人: Sri S.R.Vijaya Kumar, Head QA & CSG
电话: 080-28395371
传真: 080-28391804
电子邮件:vijaykumar@etdc.nic.in
地址:100 Feet Road, Ring Road, Peenya Industrial Estate Bangalore 560058
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从2013110日至20141014日。
测试范围不包括:可燃液体测试(Cl.4.3.12)、元器件测试(Cl.1.5)、开关和继器(Cl.2.8.7)、半导体器件(Cl.2.10.5.4)、PCB的结构(Cl.2.10.6)、组件的外部接线端子(Cl.2.10.7)、CRT阴极射线管的机械强度(Cl.4.2.8)、高压灯(Cl.4.2.9)、电池(Cl.4.3.8)、运动部件(Cl.2.8.5)、绕组组件中的绝缘(Cl.2.10.5.11)、绕组组件中的绕组线(Cl.2.10.5.12)、组组件中的带有溶剂型漆的绕组线(Cl.2.10.5.13)、绕组组件中另加的绝缘(Cl.2.10.5.14)、异常工作和故障条件(Cl.5.3.2,5.3.3,5.3.5,5.3.7,5.3.8)、涂覆印制板及涂覆元器件的试验(Cl.2.10.82.10.8.12.10.8.2)。
以下测试将分包给班加罗尔的M / s TUV Theinland:紫外线辐射的测试(Cl.4.3.13.3Cl.4.3.13.4 Cl.4.3.13.6);分包给新德里M/s ERTL(N):非分离薄层材料试验(Cl.2.10.5.8)。
Rs.54000(约合RMB 5400)
UL India Pvt Ltd
联络人: Mr. V. Ravichander, Head-Quality
电话: 080-41384400, (64454
传真: 080-25204407
电子邮件:Ravichander.V@ul.com,Bharani.
地址:Kalyani Platina Campus, Sy.No.129/4 EPIP Zone, Phase-II, Whitefield Bangalore 560066
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从2013111日至2015512日。
测试范围不包括:灰屑、粉末、液体和气体(Cl.4.3.10)、可燃液体(Cl.4.3.12)、电离辐射影响(Cl.4.3.13.2)、紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)、人体暴露在紫外线(UV)辐射下(Cl.4.3.13.4)、灼热燃油试验(Cl.4.6.2A-3)、元器件(Cl.1.5)、电源软线(C3.2.5.1 Cl.3.2.5)、阴极射线管(Cl.4.2.8)。
Rs.59000(约合RMB 5900)
TUV Rheinland (India) Pvt. Ltd.
联络人:Sh.G.Kalyan Verma, General
电话: 080-30554300
地址:#82/A, West Wing, 3rd Main Road, Electronic City Phase-1, Bangalore 560100
传真:080-30554342
电子邮件:vkalyan@ind.tuv.com
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从201348日至2016217日。
测试范围不包括:元器件测试(Cl.1.5)、浪涌抑制器(Cl.1.5)、AC电源软线(Cl.3.2.5.1)、软线(Cl.2.6.3.3)、安全联锁装置(Cl.2.8.5)、开关和继电器(Cl.2.8.7)、绝缘材料(Cl.2.9.1)、绝缘导体(Cl.3.1.4)、阴极射线管(Cl.4.2.8)。
以下测试将分包给班加罗尔ETDC:电离辐射(Cl.4.3.13.2)和电压浪涌测试(Cl.7.4.2);分包给金奈CIPET:紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)。
Rs.160000(约合RMB 16000)
Intertek India Pvt. Ltd.
联络人: Mr. Rakesh Chaurasia, Operations Manager
电话: 011-41595469, 77
传真: 011-41595475
电子邮件:rakesh.chaurasia@intertek.com
地址E-20, B-1 Mohan Co-operative Industrial Estate, Mathura Road New Delhi 110044
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从201334日至20131027日。
测试范围不包括:元器件(Cl.1.5)、开关和继电器(Cl.2.8.7)、接点间隙(Cl.2.8.7.1)、过载试验(Cl.2.8.7.2)、耐久性测试(Cl.2.8.7.3)、不可分薄层(Cl.2.10.5.8 AnnexAA)、组件的外部接线端子(Cl.2.10.7)、涂覆印制板及涂覆元器件的试验(Cl.2.10.8)、阴极射线管(Cl.4.2.8)、电池(Cl.4.3.8)可燃液体(Cl.4.3.12)、紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)、人体暴露在紫外线(UV)辐射下(Cl.4.3.13.4)、其他类型(Cl.Cl.4.3.13.6)、灼热燃油试验(Cl.4.6.2A-3)、运动部件(Cl.2.8.5)。
以下测试将分包给新德里M / sERTLN):瞬态电压测量(Cl.2.10.3.9)、电离辐射(Cl.4.3.13.2)、材料(Cl.4.7.3)、脉冲试验(Cl.6.2.2.1CL.7.4.3节)、电压的浪涌测试(Cl.7.4.2),且范围限制在Cl.4.3.13.5测试内的1型激光系统产品。
Rs.89000(约合RMB 8900)
Conformity Testing Labs Pvt. Ltd.
联络人: Shri Sudhir Kumar Sharan
电话:9811127453
传真: 011-28114400
电子邮件:E-mail testing@ciindia.in
地址:WH-52 Mayapuri Industrial Area, Phase-I New Delhi 110064
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从2013315日至2016314日。
测试范围不包括:元器件(Cl.1.5)、开关和继电器(Cl.2.8.7.3)、热循环(Cl.2.10.9)、紫外线(UV)对材料的影响(Cl.4.3.13.3)。
以下测试将被分包给新德里ERTLN):电网电源瞬态电压(Cl.2.10.3.2)、机械强度试验CRTCl.4.2.8)、电离辐射(Cl.4.3.13.2)、脉冲测试(Cl.6.2.2 Cl.7.4.3)、电压冲击测试(Cl.7.4.2);分包给班加罗尔M /S TUV印度):人体暴露在紫外线(UV)辐射下(Cl.4.3.13.4),且范围限制在1类型产品。
Rs.75000(约合RMB 7500)
Bharat Test House Pvt Ltd
联络人 : Shri Rajeev Gupta, CMD
电话9810314585
传真: 0130-2367675
电子邮件 bthrai@bharattesthouse.com
地址781, HSIIDC Industrial Estate Rai Sonepat 131001
IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》
注:授权生效日期从2013521日至2016520日。
测试范围不包括:电源软线(Cl.3.2.5.1Cl.3.2.5.2)、阴极射线管(Cl.4.2.8)、电池(Cl.4.3.8)、可燃液体(Cl.4.3.12)、紫外线的辐射影响(Cl.4.3.13.34.3.13.4)、无人值守的设备(Cl.5.3.8
Rs.52500(约合RMB 5250)
注:为BIS认证进行该项测试优惠10%

文章出自: 世科网

 
快速回复
限200 字节
如果您提交过一次失败了,可以用”恢复数据”来恢复帖子内容
 
上一个 下一个