超声波探伤的基本方法 [复制链接]

第三章  超声波探伤的通用方法和基础技术 M[]A2'fS  
第二节  超声波探伤的基本方法 X[$++p .
  
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一、超声波探伤的缺陷定位原理 .?W5{U  
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       脉冲反射法超声波探伤中对缺陷位置的确定，通常以探头所在的探测面作为测量基准。由于示波管水平刻度线经时间轴比例适当调整后，它就能指示相应的距离，所以时间轴比例的调整(即探测范围调整)是缺陷定位中的重要环节。 qOhO qV  
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1. 直探头纵波探伤 kLSrj
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       直探头纵波探伤时，探测范围的调整可借助标准试块或对比试块进行，也可直接利用工件大平底面。调节时应同时校正零位，使声程原点与水平刻度零位相互一致，按照需要调整的探测范围选择适当厚度的试块，以便得到两个以上的底面回波。这是因为发射脉冲前沿位置与声程原点不一定一致，用一次底面反射(一个基准回波)不能正确调整探测范围和校正零位的缘故。例如，调整钢中200mm的探测范围时，可用IIW试块厚度100mm作探测基准，调节深度粗调与细调，以及水平旋钮，使测距为100mm的一次底波B1和二次底波B2分别位于水平刻度的5格和10格处(见图3–16所示)，此时，时间轴水平刻度每格代表钢中声程20mm。 "f.Z}AbP  
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四、探头在工件表面的扫查方式 MZv]s  
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       探头在工件表面的扫查方式，以探头在工件探测面上的相对位置和运动轨迹来表示，探头的运动过程就是工件被检部位受到声束(主要是主声束)扫查的过程。扫查方式多种多样，没有一定的限制，其选择原则有两条：一是保证工件的整个被检区域有足够的声束覆盖，避免漏检；二是探头的移动应使其入射声束可能与工件中缺陷反射面垂直，以便获得最佳检测效果，常见的扫查方式有： n`Z"rwKmNw  
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1. 直探头纵波探测扫查方式 8OhDjWVJ  
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       (1) 全面扫查 全面扫查就是探头在整个探测面上无一遗漏地循序移动，要求相邻扫查间距水大于探头的直径，常用于要求较高的工件探伤，例如，规定检测的缺陷尺寸小于探头晶片尺寸时，需要全面扫查。全面扫查种类有： ^)yTBn,  
       ① 周向或横向扫查 探头在轴类或圆筒类零件圆周上移动，可称为周向扫查。此时探头声束轴线与工件半径方向一致。故又可称为径向扫查，如图3–21中探头A。为确保近表面缺陷不漏检，即使实心轴类也应在全圆周上探测。 :,pSWfK H  
对于平板形或非圆工件，上述扫查方式可称为横向扫查。 hqSJ(gs{  
       ② 纵向或轴向扫查 探头在轴类或圆筒类工件端面上移动时，可称为轴向扫查，如图3–21中的探头B，在平板或非圆工件端面上移动时就称为纵向扫查。 \$*$='6"  
      (2) 局部扫查 局部扫查就是探头在整个探测面上按规定要求有一定间距地规则移动、相邻扫查线的间距往往大于探头直径。这种扫查方式常用于要求不太高的工件探伤，例如钢板探伤等。局部扫查又可分为： &<'n^n  
       ① 直线扫查 探头在平板类工件的探测面上以一定的间距作直线移动或斜直线移动，如图3–22和图3–23所示。 pY8q=Kl  
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