8试验程序 {+:XVT_+
受试设备应在指定的工作和气候条件下进行试验,温度和相对湿度应记录在试验报告中。 \gkajY-?
对于来自试验配置的辐射应遵守有关干扰法规。当辐射的能量超过允许的电平时,应在屏蔽室内进行试验。 ~'MWtDe:Z8
注:通常,传导抗扰度试验可不在屏蔽室内进行。这是th+fR采用骚扰电平和试验配置的JLnnR寸不可能辐射太高能量,尤其在低频频段。 3Y-v1.^j
依次将试验信号发生器连到每个耦合和去耦装置上,而其他不被激励的耦合装置的射频输入端口应端接nn电阻负载。 AF$ o>f
为了防止(高次或次)谐波干扰受试设备,应使用滤波器。在试验信号发生器后面可能要求用100kHz高通滤波器(HPF)。低通滤波器(LPF)的阻带特性应能充分抑制谐波以便不影响测量结果。在调整测量电平之前,应在试验信号发生器的后面插入这些滤波器(见6.4. 1)。 ArYF\7P
按试验程序设定的信号电平在150 kHz~80 MHz频率范围内扫频,骚扰信号为1kH,正弦波调幅,调制度为80%。如果需要,暂停试验井调整射频信号电平或切换耦合装置。扫描速率不能超过1·5/10-3’十倍频/S,当扫描频率增加时,步长不应超过开始频率的1%,此后,步进的大小不应超过前一频率值的1%。 6hK"
k
在每一频率上的驻留时间,不应少于受试设备所需的运行和响应时间。对于敏感频率,例如,时钟频率及其谐波或主要感兴趣的频率应分别进行分析。 [R>
试验期间,应设法充分操作受试设备,并充分的审查抗扰度试验所选择的全部操作方式。 %#9 ~V
推荐使用专门的操作程序。 DZRxp
,
应按照试验计划进行试验,该计划应包括在试验报告中。 29^bMau)v
试验报告应包括: VWy:U#;+8
----设备的尺寸; M[u3]d
N
---设备的典型工作条件; "}p?pF<'0
---设备是作为单个单元还是作为多个单元试验; }dJ ~Iy
---所用试验设备的类型,受试设备、辅助设备以及耦合和去耦装置的位置; D~Ohw sL4
---所用的耦合和去耦装置及其耦合系数; %E"/]!}3
---试验的频率范围; [!?,TGM}^
---频率扫描的速率,驻留时间和频率步进; 2bnIT>(
---所采用的试验等级; lMez!qx,=
---被测互连电缆的类型和连接这些电缆的接口。受试设备的); -_DiD^UcXn
---采用的性能判据; $L8s/1up
---受试设备操作方法的描述。 &W+G{W{3
为了确定试验计划的某些内容,可以进行某些探查性试验。 ?{,)XFck
试验文件应包括试验条件、校准说明和试验结果。