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材料分析

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最后更新: 2015-10-16
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产品详细说明

切片+显微观察(光学显微镜OM、扫描电镜SEM、透射电镜TEM)

材料力学/电学/热学/化学性能分析

表面微区分析

异物/污染分析

成分分析

材料老化及可靠性分析

【表面材料分析手段】:

  • AES 俄歇电子能谱仪应用
  • AFM 原子力显微镜应用
  • EELS 电子能量损失分析仪应用
  • FT-IR 傅立叶红外显微镜应用        
  • SEM/EDS 扫描电子显微镜/X射线能谱仪应用
  • SIMS 二次离子能谱仪(特殊定点/非定点制样、元素分析)
  • TEM 透射电镜(定点/非定点制样及上机观察)
  • TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱应用
  • XPS X射线光电子能谱仪应用
 
 
本信息网址: http://www.cgets.net/sell/show-16043.html
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