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HORIBA Scientific推出适用聚合物及其镀层分析的超快速溅射专利技术

放大字体  缩小字体 世科网   发布日期:2013-06-13  浏览次数:502
核心提示:HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)作为辉光放电光谱仪的全球引领者,现隆重推出超快速溅射(UFS)专利技术,它适用于聚合
HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)作为辉光放电光谱仪的全球引领者,现隆重推出超快速溅射(UFS)专利技术,它适用于聚合物和聚合物镀层的分析,其应用范围包括汽车有机镀层、封装光伏电池和DVDs等。
      该技术优势在于:
     1. 加快了分析速度,使辉光放电光谱仪的溅射速度提高了10~100倍。
     2. 稳定、卓越的深度分辨率:UFS专利技术即使在剥蚀70微米厚的顶部镀层后,仍旧可保证纳米级的深度分辨率。
     3. 可快速剥蚀超厚有机镀层,快速定位目标分析界面,从而提高分析效率。
     4. 提高分析灵敏度。

 
  来源:法国HORIBA JobinYvon S.A.S(HORIB
文章出自: 世科网
本文网址: http://www.cgets.net/news/show-1759.html

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