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LED器件及模组领域检测分析
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产 品： 浏览次数：1429LED器件及模组领域检测分析 
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更新日期： 2015-10-14  有效期至：长期有效
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详细信息

  • Surface morphology、Dimension Measurement   表面形貌、尺寸量测
  • Optical profiler, SEM, TEM     
  • Film type and thickness    薄膜类型及薄膜厚度
  • SEM/EDS, TEM/EDS
  • Q-well structure    量子井结构分析
  • SEM/EDS, TEM/EDS      
  • Defects (Dislocations)    缺陷分析    
  • TEM   

               

  • Q-Well Periodic Doping Profile  量子井周期掺杂分布
  • SIMS
  • Defect Isolation   缺陷定位
  • EMMI、OBIRCH
  • Failure Analysis  失效分析
  • X-ray，SAM，EMMI，SEM，FIB，TEM
  • ESD Testing   静电测试
  • 可靠性测试
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