|  客服中心  |  网站导航
当前位置: 首页 » 学院 » 检测技术 » 可靠性知识 » 正文

手机可靠性低温定向跌落

放大字体  缩小字体 世科网   发布日期:2013-03-09  浏览次数:604
核心提示:1、测试前应检查待测样机的外观、结构及功能并详细记录,以便测试前后作对比;2、将测试样机放在-15℃的恒定温度下存储2H后,逐台

1、测试前应检查待测样机的外观、结构及功能并详细记录,以便测试前后作对比;
2、将测试样机放在-15℃的恒定温度下存储2H后,逐台取出按照常温受控跌落的方法进行
跌落测试
3、每台样机的跌落时间控制在10分钟内;
4、每跌完一个面进行外观、结构和功能检查并详细记录出现的
可靠性测试异常。

跌落试验-概念
跌落试验的原理——将包装件按规定高度跌落于坚硬、平整的水平面上,评定包装件承受垂直冲击的能力和包装对内装物保护能力的可靠性试验。跌落试验,又名drop test。
   用来模拟产品在搬运期间可能经受到的跌落等。
   包括   (1)非包装状态产品在搬运期间可能经受的自由跌落,样品通常按照规定的姿态从规定的高度跌落到规定的表面上。
   (2)模拟负载电缆上的连接器、小型遥控装置等在使用中可能经受的重复自由跌落。
   (3)包装跌落   
主要参数   1、 跌落高度   2、 跌落次数   3、 跌落表面   受限制因素:1、 高度 2、.样品外形(针对自由跌落)

 
文章出自: 世科网
本文网址: http://www.cgets.net/college/show-1267.html

声明:

1、本网转载作品目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。

2、凡来源注明“世科网”的所有作品,版权均属世科网所有,未经本网授权,不得转载使用。

3、如涉及作品内容、版权和其它问题,请在30个工作日内与本网联系,我们将在第一时间处理!

分享到:
5.31K
 
[ 学院搜索 ]  [ ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]

 
0条 [查看全部]  相关评论