1、光电耦合器CQC认证中关于单元划分的问题 ? IgM=@ B>sSl1opI 光耦的实施规则规定：输入形式相同（交流或直流）、管脚数量和安全结构相同的产品才可以划分为同一申请单元。我们在现实中遇到，如果同一个系列产品的不同型号之间，除了输入形式和电气参数不同，其余均相同；或者同一个系列产品的不同型号之间，除了管脚数量不同，其余都相同，这两种情况也可以分别划分为同一单元。
1 _$y bftS 案例1：A公司有一个系列的光耦，型号分别是：EL847、EL844、EL845，这些型号之间的差异是电流传输比和输入方式不同（EL844是交流输入，EL847、EL845都是直流输入）。处理：这三个型号光耦都可以划分在同一个单元，都需要送样。
!9w3/Gthj 例子二：B公司有一个系列光耦，型号是：LTV-217, LTV-227, LTV-247，这些型号样品的引出端数量为：LTV-217有4根；LTV-227有8根；LTV-247有16根；各型号之间的差异为电气结构不同（LTV-217为单通道, LTV-227为双通道, LTV-247为四通道）、电流传输比不同。测试时，对所有型号产品都测量内部电气间隙和爬电距离，如果满足要求，不用进行热循环测试； 如果不满足要求，都要进行热循环测试。
#mu3`,9V 关注点：输入形式不同，其他都相同的光耦，可以通过做全部测试，划分为一个单元；管脚数量不同，其余都相同的光耦，可以通过做全部测试，划分为一个单元； &ru 2&Sz
a VTTpMY 2、外部电气间隙和爬电距离的测量建议选用影像测量仪 T^FeahA7; w0W9N%f#= 光耦的封装形式直接影响其外部电气间隙和爬电距离的测量值，所以，一份完整的、正确的报告，应该体现主检型号所有封装形式的外部电气间隙和爬电距离测量值。对于光耦外部电气间隙和爬电距离的测量，建议采用影像测量仪而不建议用游标卡尺。 w}2 ;f=
原因如下：有些光耦的样品非常小，用游标卡尺在肉眼观察下测量光耦这么小的样品，不方便，测量结果受测试人员的主观因素影响的可能性会更大，误差相对也更大；而使用影像测量仪来测量时，能调整视野清晰度和样品大小，可以在最清晰的视野下测量，可以在很大程度上避免这样的问题。 eru2.(1
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^ 关注点：影像测量仪比游标卡尺在光耦外部电气间隙和爬电距离测量上的操作性和准确性更好。
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q6E8^7RtS@ 3、在油槽中进行光耦的抗电强度试验 :
&! >.Y x@^Kd*fo 在测试过程中，经常会遇到，样品外部的电气间隙和爬电距离能满足2000m加强绝缘的要求。但是热循环测试完成后，在空气中做抗电强度试验，往往不能通过。通过对比油与空气的特性，我们了解到，油和空气不混溶，油在某种物体表面形成一层薄膜后，能阻挡如空气、水等物质接触物质表面。利用油的这个特性，我们在油槽中进行光耦的抗电强度试验，则考核的仅仅是样品本体内部的抗电强度，没有了空气的干扰，样品更容易通过测试。
%K@s0u Q 关注点：某些很小的光耦，其外部电气间隙和爬电距离满足加强绝缘，但是抗电强度在空气中测试不通过时，可以考虑在油槽中进行测试。 `* ?8<Vm
>v1E ;-ZA 4、CQC关于派生证书的一些规定 U9N1 )3/u #Z%?lx"Q0 对于增加生产厂的OEM报告，如果客户认可原生产厂报告的数据，可以只做 “标记和说明书”这个章节的测试；如果不认可，做全项目测试。
?[Gj?D.Wc 对于派生出来的报告和证书，原则上不允许在其基础上再进行派生。但是，如果最原始的报告和证书已经不再使用，则派生的报告和证书可以作为原型报告和证书，进行派生第三个生产厂。
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